De E-Waste World Conference & Expo 2025 is de ontmoetingsplaats voor alle spelers op het gebied van e-waste recycling - van recyclingbedrijven tot leveranciers van kritieke grondstoffen en van elektronicafabrikanten tot ITAD-dienstverleners. De focus ligt hier op toekomstgerichte innovaties en oplossingen die een goed functionerende circulaire economie en duurzame toeleveringsketens bevorderen.
FLUXANA is dit jaar vertegenwoordigd met een spannend onderwerp: de XRF-analyse van zwarte massa uit batterijrecycling. We zullen nieuwe analysemethoden presenteren en ter plaatse aanwezig zijn om vragen te beantwoorden en technische discussies te voeren met geïnteresseerde klanten.
We kijken ernaar uit u te verwelkomen op onze stand D88 en u onze eerste innovaties voor te stellen.
Nieuw gecertificeerd referentiemateriaal voor dolomiet en klei nu beschikbaar!
Dolomiet FLX-2004 en klei FLX-134 geproduceerd onder DIN EN ISO 17034:2017 accreditatie
Ons assortiment gecertificeerde referentiematerialen is uitgebreid:
Dolomiet FLX-2004 bevat de volgende elementen: Al2O3, CaO, Fe2O3, K2O, MgO, SiO2, TiO2.
Klei FLX-134 bevat de volgende elementen: Al2O3, BaO, CaO, Fe2O3, K2O, MgO, Na2O3, P2O5, SiO2, TiO2, V2O5.
Via onderstaande knop vindt u een overzicht van alle FLUXANA referentiematerialen. Informatie over de inhoud en relevante documenten zoals certificaten, veiligheidsinformatiebladen en interlaboratorium testrapporten voor de nieuwe referentiematerialen vindt u hier onder “dolomiet” en “klei”.
U vindt ook een grote selectie van extra exclusieve referentiematerialen in onze FLUXearch® Database.
In dit webinar laten we u zien hoe u deze “veroudering” kunt corrigeren met driftcorrectiemonsters en presenteren we onze nieuwe XRFMON® monitorset, die het hele periodiek systeem dekt.
In dit webinar laten we u zien hoe u deze “veroudering” kunt corrigeren met driftcorrectiemonsters en presenteren we onze nieuwe XRFMON® monitorset, die het hele periodiek systeem dekt.
Röntgenfluorescentiespectrometers veranderen na verloop van tijd en kunnen daardoor de analyseresultaten veranderen. In dit webinar laat Dr. Rainer Schramm zien hoe u deze “veroudering” kunt corrigeren met driftcorrectiemonsters en presenteert hij onze nieuwe XRFMON® monitorset, die het hele periodiek systeem dekt.
Het webinar vindt plaats op 21 mei om 15:00 uur (CET). Het is gratis en duurt ongeveer 30 minuten. Geregistreerde gebruikers ontvangen een video-opname van het webinar.
Klik op de onderstaande knop om u aan te melden voor dit webinar en leer meer over ons nieuwe "Inside XRF" webinarprogramma.
