FXRV-2026-02 : Poudre de fabrication additive en acier inoxydable 1.4404 - FXRV-2026-02
Le nouvel essai interlaboratoire inclut l’analyse de l’acier inoxydable.
Éléments à déterminer : Éléments majeurs et mineurs : Cr, Cu, Fe, Mn, Mo, Ni, Si Traces : Al, As, B, Bi, C, Ce, Co, N, Nb, O, P, S, Sn, Ta, Ti, V, W, Zn, Zr
Les laboratoires accrédités et non accrédités ayant une expérience suffisante en analytique ont la possibilité de participer. Nous recommandons la fluorescence X (XRF) comme méthode d’analyse privilégiée.
La date limite d’inscription aux essais d’aptitude correspondants est fixée au 30 avril 2026. Si vous vous inscrivez aux deux tests de compétence, l'envoi peut être combiné.
Cliquez sur le bouton ci-dessous pour obtenir plus d'informations et accéder au formulaire d'inscription.
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Bezoek ons op de vakbeurs Analytica in München
U vindt ons van 24 tot en met 27 maart 2026 op stand A2-300
Analytica 2026 in München staat voor de deur – ’s werelds toonaangevende platform voor laboratoriumtechnologie, analytica en biotechnologie. FLUXANA zal opnieuw met een eigen stand aanwezig zijn en spannende nieuwe producten presenteren op het gebied van perstechnologie, smelttechnologie en monsterdosering, ontworpen om de efficiëntie in het laboratorium te verbeteren.
Ontdek nieuwe, praktijkgerichte ontwikkelingen en ga rechtstreeks in gesprek met onze experts over toepassingsgerichte oplossingen, de nieuwste trends en maatwerktoepassingen. Of het nu gaat om automatisering of klantspecifieke oplossingen voor analytische toepassingen, ons team kijkt ernaar uit u te inspireren.
Een bezoek aan Analytica is in elk opzicht de moeite waard. Netwerkmogelijkheden, technische presentaties en een uitgebreid overzicht van de sector verrijken uw beursbezoek aanzienlijk.
Verzeker u van een gratis dagticket door vooraf een persoonlijke bezoekafspraak met ons te maken. Zo kunnen wij gericht tijd vrijmaken voor uw onderwerpen. Neem hiervoor gerust contact met ons op hier.
Webinaire : Principes de base de la création d'une méthode en WDXRF
Inscrivez-vous dès maintenant à notre webinaire gratuit en ligne qui aura lieu le 25 février 2026
Une méthode de mesure adaptée et des étalonnages appropriés sont essentiels pour obtenir des résultats significatifs par fluroescence X sur un spectromètre dispersif en longueur d’onde, (WDXRF). Dans ce webinaire gratuit de 30 minutes, vous apprendrez les bases de manière simple et recevrez des conseils pratiques pour une utilisation en laboratoire.
Notre expert Konstantin Brendgens explique clairement :
ce qui est important dans une méthode de mesure par WDXRF indépendante du dispositif,
comment les corrections doivent être appliquées dans les étalonnages,
quelles sources d'erreurs typiques doivent être évitées, et
comment valider votre méthode et la garder sous contrôle à long terme.
Le webinaire s'adresse particulièrement aux débutants et aux utilisateurs qui souhaitent rafraîchir leurs connaissances de base et les appliquer en toute confiance dans la pratique.
Date : 25 février 2026, 15 h 00 CET (via Zoom)
Langue : anglais
La participation est gratuite.
Conseil : même si vous ne pouvez pas être présent à cette date, cela vaut la peine de vous inscrire. Après le webinaire, vous recevrez automatiquement un lien vers l'enregistrement par e-mail.
Réservez votre place dès maintenant – cliquez sur le bouton ci-dessous pour vous inscrire.