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Participez à notre webinaire commun, qui se déroulera en anglais, organisé par SPECTRO Analytical Instruments en collaboration avec FLUXANA — il explique comment la préparation des échantillons, l'excitation, la détection et les effets de matrice influencent la performance analytique de l'analyse par fluorescence X à dispersion d'énergie (ED-XRF).
À l'aide d'échantillons géologiques, nos experts présentent les principes fondamentaux de la préparation des échantillons pour la FX ainsi que l'analyse ED-XRF qui suit — pour une meilleure compréhension de la technologie et des résultats analytiques plus fiables.
Ce que vous apprendrez :
- Les options de préparation des échantillons géologiques pour l'analyse par FX
- La stratégie pour choisir la méthode de préparation adaptée et l'analyseur ED-XRF correspondant à votre application
- Les meilleures pratiques pour une analyse élémentaire précise sur divers types d'échantillons et applications industrielles
- Les méthodes de quantification et les effets de matrice dans des applications réelles
- Comment les solutions modernes SPECTRO ED-XRF garantissent une analyse précise, efficace et orientée application
Que vous soyez novice en ED-XRF ou que vous souhaitiez approfondir vos connaissances, ce webinaire relie la théorie aux défis quotidiens du laboratoire.
Date : mardi 20 octobre — environ 30 minutes, suivie d'une session de questions-réponses en direct.
Horaires :
- 10 h 30 CEST (Berlin) / 16 h 30 SGT (Singapour)
- 11 h 00 EDT (New York) / 17 h 00 CEST (Berlin)
Réservez votre place dès maintenant : cliquez sur le bouton ci-dessous pour vous inscrire.
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